特許権侵害差止等請求控訴事件

事件の基本情報

この事件の代理人

• 三村量一（控訴人代理人）
• 片山健一（控訴人代理人）
• 土井伸次（控訴人代理人）
• 片山英二（被控訴人代理人）／第一東京弁護士会
• 加藤志麻子（被控訴人代理人）
• 黒田薫（被控訴人代理人）／第一東京弁護士会
• 石原俊秀（被控訴人代理人）
• 野中啓孝（被控訴人代理人）
• 角渕由英（被控訴人代理人）／第一東京弁護士会

争点（判決文より）

争点及び争点に対する当事者の主張は、後記３のとおり控訴人の
当審における補充主張を付加するほか、原判決「事実及び理由」（以下、「事実
及び理由」の記載を省略する。）第２の１ないし３（２頁１８行目から５２頁２
６行目まで）に記載のとおりであるから、これを引用する。
３ 当審における控訴人の補充主張
⑴ 本件発明１及び本件発明３に関する原判決の認定判断の誤り
ア 本件発明１の技術的意義等
以下のとおり、本件明細書１の記載及び本件発明１の解決課題等から導
かれる「エンボス深さ」の技術的意義からすれば、本件発明１の「エンボ
ス深さ」の測定に当たっては、まず一つのエンボスにおける最も深い位置
（最深部）と、当該エンボス周辺において最も高い位置（最高部）を特定
した上、最深部と最高部の差分を求め、これを「エンボス深さ」とすべき
であり、断面曲線を取得することは必要でない。
(ｱ) すなわち、本件明細書１において、エンボス深さの測定方法について
は、「エンボス深さＤは、形状測定レーザマイクロスコープを用いてエン
ボスの高低差を測定して求める。」（【００２１】。以下、明細書の段落は、
【】内の番号により特定する。）としか記載がなく、これ以外には何らの
方法も指定されていない。したがって、「エンボス深さ」を測定するに当
たっては、「（形状測定レーザ）マイクロスコープ」を用いてエンボスの
高低差を測定すれば足り、それを超えて、原判決がいうような特定の方
法によらなければならない理由はない。
【００２２】ないし【００２４】には、Ｘ－Ｙ平面上の高さプロファ
イルからエンボスの最長部ａを見分け、この最長部ａを横切る線分Ａ－
Ｂを引くことで、エンボス高さプロファイル（断面曲線）を得ることが
でき、当該断面曲線からＰ１、Ｐ２を認定することでエンボス深さを測
定し、さらに最長部ａに垂直な方向での最長部ｂについても同様にエン
ボス深さを算出し、大きい方の値を採用するという測定方法が記載され
ている。
しかし、【００２２】の冒頭に「まず、図４に示すように、」との文言
があることからも明らかなように、上記測定方法は、あくまで、エンボ
スの典型例として、図４に示されるような円又は楕円形状のエンボスに
おけるエンボス深さを測定する場合を想定した例示的な記述であり、他
の形状のエンボスについてまで、断面曲線からＰ１、Ｐ２を認定する方
法によりエンボス深さを測定しなければならないとするものではない。
すなわち、エンボスの形状が円又は楕円の場合は、最長部が（最も深い
と思われる）中心部を通ることになるため、最長部上で断面曲線を取得
し、当該断面曲線上で深さを測定することが簡便であり、かつ当該断面
曲線上で求めたＰ１、Ｐ２を面積の算出においてそのまま利用すること
でエンボス深さの測定と面積の測定を簡便に行う

主文（判決文より）

１ 本件控訴を棄却する。
２ 控訴費用は、控訴人の負担とする。

出典

本ページは裁判所が公開する判例データに基づいています。